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第412章 光损耗破0.8 (2 / 8)
        0.95→0.88，梯度刻蚀后，侧壁粗糙度从12nm降到8nm。

        第三个箭头。

        0.88→0.82，刻蚀时间窗口继续收窄，端面损耗没有继续放大。

        第四个箭头画到一半，他的笔停住。

        曲线终点旁边，测试条件一行一行列着，1550nm，室温，TE模式，样片编号G-4-17，重复测试三次。

        最终读数，0.8dB/Cm。

        旁边的工程师低头确认原始文件名，又看向主屏：“沈老师，重复测试三次都在0.8上下，偏差没有超。”

        沈明轩把鼠标移到原始数据导出按钮上，保存，备份，签名。

        工程师伸手想把打印稿拿去复印，沈明轩先按住了。

        他把四个箭头重新看了一遍，红笔从1.1一路滑到0.8。

        实验室里仍没人说话。

        年轻工程师终于没忍住，低声说：“破了。”

        沈明轩退后半步，看着屏幕上的四条线。

        “0.8。”

        他把红笔盖好，放在测试台边。

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